硅單晶提升裝置用放射溫度計介紹

發(fā)布時間：2024-07-12　點擊量：345

硅單晶提升裝置用放射溫度計介紹

可進行高精度、出色的再現(xiàn)性微小光點的溫度測量

在硅單晶提拉工序中，液面溫度和維塔溫度是左右鑄錠純度和鑄錠尺寸的重要要點。通過使用輻射溫度計在線進行測量和控制，可以生成高品質的錠子。

導入效果

抓住液面的正確的溫度變化，提高質量，通過加熱器的溫度控制為省工業(yè)內做出貢獻

[商品的特點]

·距離系數(shù)大，可測量微小面積的溫度（IR-CZ）耐污染性強的雙色溫度計（1R-CZ）

●即使是小的測定容也可以設置的小形狀的聚光部（IR-FA）

高性能雙色溫度計

功能強大的類型，可進行單色或雙色測量，并可在 400℃ 至 2000℃ 的測量范圍內選擇各種測量波長。光學系統(tǒng)和電路板全面更新，實現(xiàn)長期穩(wěn)定。配備窗口污垢檢測功能，方便通過真空爐等窗口進行測量。

實現(xiàn)高精度和長期穩(wěn)定性
利用我們過去的經驗和技術，我們重新設計了光學系統(tǒng)和電路設計，以實現(xiàn)從低溫到超高溫的穩(wěn)定測量。
長期穩(wěn)定性已評估了大約 3 年，溫度支持一直保持在定范圍內。
工作溫度范圍：60℃（最高）這
是通過使用耐熱電子元件、提高物鏡的耐熱性、提高環(huán)境溫度校正性能來實現(xiàn)的。
通過與各種配件相結合，它可以應對更惡劣的環(huán)境。

光纖式紅外輻射溫度計 IR-FAI單色中/高溫
IR-FA系列是光纖傳輸型輻射溫度計，使用光纖將小指大小的聚光部捕捉到的測量光（輻射能）引導到容納在小盒狀主體中的檢測元件。由于聚光部分較小，光纖傳輸靈活，因此對于難以直接看到的地方、狹窄的地方或有電感應干擾風險的地方進行測量非常有用。
光纖無需冷卻即可使用，最高可達150℃
光纖不導電，因此有利于感應加熱和在防爆環(huán)境中使用。
激光發(fā)射選項還可用于確認測量點。
主體體積小、重量輕，可安裝在DIN導軌上。
有低溫型、中高溫型、雙色型等多種型號可供選擇。

將透鏡和光纖組合成光學系統(tǒng)的輻射溫度計。鏡頭部分形狀較小，可在150攝氏度的環(huán)境下使用。一種短波長溫度計，測量范圍為400℃至3000℃，因測量目標表面狀況的變化對溫度讀數(shù)影響很小。